Шифр: 621.396(07) Г55
Глудкин О. П. Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем : учебное пособие для вузов / О. П. Глудкин, В. Н. Черняев. – Москва : Энергия, 1980. – 360 с. : ил. – 1,00
Глудкин О. П. Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем : учебное пособие для вузов / О. П. Глудкин, В. Н. Черняев. – Москва : Энергия, 1980. – 360 с. : ил. – 1,00
Статистика використання: Видач: 0
Де отримати
| Місце видачі: | Кількість: | В наявності: |
| Абонемент загальний к. 358 | 89 | 89 |
Тема:
- УДК
- 621.396.6 Радіоелектронна апаратура та схеми Ключові слова
- інтегральні мікросхеми, ІМС, интегральные микросхемы, ИМС, integrierte Mikroschaltungen
- радіоелектронна апаратура, РЕА, радиоэлектронная аппаратура, РЭА
- випробування апаратури, испытания аппаратуры
- випробування, испытания
- мікроелементи, микроэлементы