Шифр: 537 М64
Миронов В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пос. / В. Л. Миронов ; РАН, Ин-т физики микроструктур. – Москва : Техносфера, 2005. – 144 с. : ил. – (Мир физики и техники). – ISBN 5-94836-034-2. – 82,10
Миронов В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пос. / В. Л. Миронов ; РАН, Ин-т физики микроструктур. – Москва : Техносфера, 2005. – 144 с. : ил. – (Мир физики и техники). – ISBN 5-94836-034-2. – 82,10
Статистика використання: Видач: 0
Де отримати


Місце видачі: | Кількість: | В наявності: |
Абонемент загальний к. 358 | 1 | 1 |
Тема:
- УДК
- 537.533.35 Електронна мікроскопія Ключові слова
- скануюча зондова мікроскопія, СЗМ, сканирующая зондовая микроскопия
- скануючі тунельні мікроскопи, сканирующие туннельные микроскопы
- магнітно-силова мікроскопія, магнитно-силовая микроскопия
- ближнєпольна оптична мікроскопія, ближнепольная оптическая микроскопия
- атомно-силова мікроскопія, АСМ, атомно-силовая микроскопия