Шифр: 537 Р49
Рид С. Дж. Б. Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии : пер. с англ. / С. Дж. Б. Рид. – Москва : Техносфера, 2008. – 232 с. : ил. – (Мир наук о земле). – ISBN 978-5-94836-177-2. – 115,20
Рид С. Дж. Б. Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии : пер. с англ. / С. Дж. Б. Рид. – Москва : Техносфера, 2008. – 232 с. : ил. – (Мир наук о земле). – ISBN 978-5-94836-177-2. – 115,20
Статистика використання: Видач: 0
Де отримати
![](/img/question_mark1.png)
![](/img/question_mark1.png)
Місце видачі: | Кількість: | В наявності: |
Абонемент загальний к. 358 | 1 | 1 |
Тема:
- УДК
- 55 Геологія. Науки про землю
- 537.533.35 Електронна мікроскопія Ключові слова
- геологія, геология, geology, geologia, Geologie, geologie
- електронна мікроскопія, электронная микроскопия
- растрові зображення, растровые изображения
- ренгеноспектральний мікроаналіз, ренгеноспектральный микроанализ
- рентгеновські спектрометри, рентгеновские спектрометры