Вид документа:

Книга

УДК:

537.533.35+55
Шифр: 537 Р49
Рид С. Дж. Б. Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии : пер. с англ. / С. Дж. Б. Рид. – Москва : Техносфера, 2008. – 232 с. : ил. – (Мир наук о земле). – ISBN 978-5-94836-177-2. – 115,20


Статистика використання: Видач: 0