Шифр: 537 К47
Кларк Э. Р. Микроскопические методы исследования материалов : пер. с англ. / Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт ; РАН, Ин-т синтетических полимерных материалов им. Н. С. Ениколопова. – Москва : Техносфера, 2007. – 376 с. : ил. – (Мир материалов и технологий). – ISBN 978-5-94836-121-5. – 95,50
Кларк Э. Р. Микроскопические методы исследования материалов : пер. с англ. / Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт ; РАН, Ин-т синтетических полимерных материалов им. Н. С. Ениколопова. – Москва : Техносфера, 2007. – 376 с. : ил. – (Мир материалов и технологий). – ISBN 978-5-94836-121-5. – 95,50
Статистика використання: Видач: 0
Де отримати
| Місце видачі: | Кількість: | В наявності: |
| Абонемент загальний к. 358 | 1 | 1 |
Тема:
- УДК
- 620.1 Випробування матеріалів. Пошкодження матеріалів. Захист матеріалів
- 537.533.35 Електронна мікроскопія Ключові слова
- конструкційні матеріали, конструкционные материалы
- електромагнітне випромінювання, ЕМВ, электромагнитное излучение, ЭМИ
- ядерний магнітний резонанс, ядерный магнитный резонанс, ЯМР, nuclear magnetic resonance
- тривимірна графіка, трехмерная графика
- цифрові зображення, цифровые изображения
- просвічувальні електроннні мікроскопи, просвечивающие электронные микроскопы
- оптична мікроскопія, оптическая микроскопия
- лазерна скануюча мікроскопія, лазерная сканирующая микроскопия
- інтерференційна мікроскопія, интерференционная микроскопия