Шифр: 535 Д46
Динамічна дифракція X-променів у багатошарових структурах : [моногр.] / О. М. Єфанов, В. П. Кладько, В. Ф. Мачулін, В. Б. Молодкін ; НАН України, Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова. – Київ : Наукова думка, 2008. – 223 с. : іл. – ISBN 978-966-00-0910-0. – 30,00
Динамічна дифракція X-променів у багатошарових структурах : [моногр.] / О. М. Єфанов, В. П. Кладько, В. Ф. Мачулін, В. Б. Молодкін ; НАН України, Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова. – Київ : Наукова думка, 2008. – 223 с. : іл. – ISBN 978-966-00-0910-0. – 30,00
Статистика використання: Видач: 0
Де отримати
| Місце видачі: | Кількість: | В наявності: |
| Абонемент загальний к. 358 | 1 | 1 |
Тема:
- УДК
- 535.42 Дифракція Ключові слова
- гетероструктури, гетероструктуры
- напівпровідники, полупроводники, semiconductors, Halbleiter
- рефлектометрія, рефлектометрия
- теорія дифракційного випромінювання, теория дифракционного излучения
- дисперсійні рівняння, дисперсионные уравнения
- структурний аналіз, структурный анализ
- спектрометри, спектрометры, spectrometers
- коефіцієнт відбиття, коэффициент отражения
- надгратки, сверхрешетки
- багатошарові структури, БС, многослойные структуры, МС