Шифр: 621.382 В75
Воробьев В. Л. Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств / В. Л. Воробьев. – М. : Наука, 1989. – 159 с. : ил. – 1,40
Воробьев В. Л. Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств / В. Л. Воробьев. – М. : Наука, 1989. – 159 с. : ил. – 1,40
Статистика використання: Видач: 0
Де отримати
| Місце видачі: | Кількість: | В наявності: |
| Абонемент загальний к. 358 | 2 | 2 |