Разработана инфраструктура верификации и встроенного диагностирования цифровых систем на кристаллах на основе использования технологий ассер-ционной избыточности и граничного сканирования. Аппаратно реализован новый метод встроенного диагностирования аппаратных модулей цифровой системы на кристалле, который характеризуется использованием алгебрологической модели таблицы неисправностей и регистра граничного сканирования, что дает возможность идентифицировать дефектные компоненты с заданной глубиной диагностирования.