Ц61
Цимбал В. О. Стабільність контактно-металізаційних систем у приладах з бар'єром Шотткі : автореф. дис. ... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.01 "Фізика приладів, елементів та систем" / Цимбал Володимир Олександрович ; Харків. нац. ун-т радіоелектроніки. – Харків, 2010. – 20 с.
Цимбал В. О. Стабільність контактно-металізаційних систем у приладах з бар'єром Шотткі : автореф. дис. ... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.01 "Фізика приладів, елементів та систем" / Цимбал Володимир Олександрович ; Харків. нац. ун-т радіоелектроніки. – Харків, 2010. – 20 с.
Статистика використання: Видач: 0
Тема:
- УДК
- 539.12 Елементарні та найпростіші частинки ( заряд, менший ніж З ) альфа-промені, вета-промені, гамма-промені як окремі частинки чи випромінювання Ключові слова
- електронна мікроскопія, электронная микроскопия
- рідкісноземельні елементи, редкоземельные элементы
- резерфордівське зворотнє розсіяння, РЗР, резерфордовское обратное рассеяние, РОР
- бар'єр Шотткі, БШ, барьер Шоттки
- контактно-металізаційні системи, КМС, контактно-металлизационные системы
- рентгенівська дифрактометрія, РД, рентгеновская дифрактометрия
- багатошарові контактні системи, БКС, многослойные контактные системы, МКС
- ядерно-фізичні дослідження, ядерно-физические исследования