Ц94
Цымбал В. А. Стабильность контактно-металлизационных систем в приборах с барьером Шоттки : дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.01 "Физика приборов, элементов и систем" / Цымбал Владимир Александрович ; Нац. науч. центр НАН Украины, Харьк. физ.- техн. ин-т. – Харьков, 2010. – 141 с. – Библиогр.: с. 133–141.
Цымбал В. А. Стабильность контактно-металлизационных систем в приборах с барьером Шоттки : дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.01 "Физика приборов, элементов и систем" / Цымбал Владимир Александрович ; Нац. науч. центр НАН Украины, Харьк. физ.- техн. ин-т. – Харьков, 2010. – 141 с. – Библиогр.: с. 133–141.
Статистика використання: Видач: 0
Анотація:
Диссертация посвящена исследованию процессов деградации контактно-металлизационной системы на самых начальных стадиях формирования барьера Шоттки и поиску возможности надежного прогнозирования изменения электронных параметров потенциального барьера границы раздела, который формируется. Исследования базируются на объединении ядерно-физических методов контроля тонких пленок металлов и химических соединений на поверхности арсенида галлия с анализом фазового состава системы дифракционными методами.
Тема:
- УДК
- 539.12 Елементарні та найпростіші частинки ( заряд, менший ніж З ) альфа-промені, вета-промені, гамма-промені як окремі частинки чи випромінювання Ключові слова
- електронна мікроскопія, электронная микроскопия
- багатокомпонентні системи, многокомпонентные системы
- тонкі плівки, тонкие пленки
- резерфордівське зворотнє розсіяння, РЗР, резерфордовское обратное рассеяние, РОР
- бар'єр Шотткі, БШ, барьер Шоттки
- контактно-металізаційні системи, КМС, контактно-металлизационные системы
- рентгенівська дифрактометрія, РД, рентгеновская дифрактометрия
- багатошарові контактні системи, БКС, многослойные контактные системы, МКС